...jest pusty
Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii!
We współczesnym świecie działalność człowieka staje się coraz bardziej uporządkowana. Dotyczy to także dziedziny pomiarów. Z jednej strony aparatura pomiarowa wskutek automatyzacji jest coraz bardziej skomplikowana i coraz droższa, ale o wiele prostsza w użytkowaniu. Z drugiej strony w celu obniżenia kosztów upraszcza się i modyfikuje czynności metrologiczne. W racjonalizacji pomiarów nie można jednak odejść od podstawowego wymagania, jakim jest zapewnienie jedności miar na świecie.
(Ze Wstępu)
W podręczniku przedstawiono:
•aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar,
•podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej,
•zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych,
•aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności,
•wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów,
•badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania,
ISBN
978-83-01-17051-6
Autor
JANUSZ PIOTROWSKI, KRYSTYNA KOSTRYKO
Wydawca
PWN
Okładka
broszurowa
Ilość stron
582
Wymiary
16.5 x 23.5 cm
Rok wydania
2012
Dla tego produktu nie napisano jeszcze recenzji!
Napisz recenzjęWłaściciel sklepu internetowego nie gwarantuje, że publikowane opinie pochodzą od konsumentów, którzy używali danego produktu lub go kupili.
Zobacz także: